通用型原子力显微镜可以对样品表面进行原子级别的成像，精度高，精确度高，并能够显示样品表面的拓扑形态。在科学研究中，AFM广泛应用于物理、化学、生物学等领域。
通用型AFM的分辨率一般能够达到原子级别，其分辨率一般在几十皮米到1皮米之间。AFM的分辨率与扫描头的性质以及扫描头与样品的相互作用方式密切相关，主要受以下几个因素的影响：
1.扫描头端的尺寸和形状：扫描头端的尺寸和形状直接关系到扫描头在样品表面扫描的分辨率，所以选择合适的扫描头也非常重要。
2.扫描头与样品间的距离：扫描头与样品的距离和后期图像处理技术的结合会对AFM的分辨率产生影响。一般情况下，扫描头离样品表面越近，分辨率越高。
3.操作环境的稳定性：通用型AFM为了实现精确的表面成像，需要在相对稳定的环境下进行，环境的湿度和温度波动以及震动等都可能影响AFM的精度和分辨率。
为了进一步提高通用型AFM的分辨率，可以采取以下措施：
1.优化扫描头的尺寸和形状，选择高性能、高稳定性的扫描头，例如，多目标式扫描探头和针尖式扫描探头等。
2.通过使用精细调节控制技术调整扫描头与样品的距离，在充分考虑样品表面情况的基础上，精确控制扫描头与样品的间距，减小对AFM分辨率的影响。
3.采用高级别的数学和物理处理算法（如小波变换方法、支持向量机方法等），以获得更高的成像分辨率。
4.保证实验环境的稳定性，尽可能地降低扫描环境中的噪声和震动，例如，在实验进行时使用高稳定性光学台、隔离设备等。
