TESCAN SOLARIS是一款镣离子源的FIB-SEM 系统，适用于超薄TEM样品制备和其他具有挑战 性的纳米加工任务。 SOLARIS配备Triglav™型SEM鏡筒，具有 超高的分辨率和优异的图像衬度和表面灵敏度。

TESCAN AMBER泰斯肯是一款超高分辨的FIB-SEM 系统，集成了 BrightBeam™ SEM 镜筒、Orage™ Ga FIB镜筒、OptiGIS气体注入系统等多项创新设 计，在高分辨能力、原位应用扩展能力和分析扩展 能力方面达到了业内顶级水平。

TESCAN AMBER X结合了分析型等离 子F旧和超高分辨（UHR）扫描电镜的综合分析平 台，能够很好的应对传统的Ga离子F旧-SEM难以 完成的困难工作的挑战。

SEM-FIB是一个强大的 FIB-SEM 综合分析平台，专门设计来应对半导体和材料表征 中具挑战性的物理失效分析应用，具有的 分析、加工精度和加工效率。