SEM扫描电子显微镜

TESCAN CLARA SEM扫描电子显微镜是一款应用广泛的多功能扫 描电子显微镜，是基于成功的S8000基础上进一步 研发的，其设计更能满足材料科学的需求，适用于 对各种不同类型材料的分析和表征。

TESCAN CLARA SEM扫描电子显微镜是真正灵活的分析平台，能 得到具有好衬度的优质图像。无论样品是否导 电、有无磁性、是有机还是无机材料， CLARA均可提供理想的图像，这得益于具有电子 信号过滤功能的先进探测系统和可变真空环境的系 统设计。

BrightBeam™SEM 镜筒

最新的BrightBeam™ SEM镜筒，实现了无磁 场高分辨成像，适用于磁性样品分析。新型镜筒中 的电子光路设计增强了低能量电子成像分辨率，特 别适合分析电子束敏感样品和不导电样品。

多探测器成像分析

CLARA配置最新的多种探测器，可 选择不同角度和能量收集信息，体现更多种类的 信息，同时能够获得更好的表面灵敏度和对比度。

SE 分辨率：0.9 nm@15kV

•  1.2 nm @ 1 kV

•  配置静电■电磁复合物镜，物镜无磁场外泄， 可实现磁性样品超高分辨成像和分析 新一代镜筒内电子加速、减速技术，保证复 杂样品的低电压高分辨观测

•  配置4个新一代探测器，可实现9种图像观 測，样品信息采集更加全面

•  超过20个扩展接口，可配置多种分析附件， 并实现Raman 一体化集成

1、硅基底上的镀金颗粒。

2、陶瓷断裂表面，2 keV成像。

3、在Cyr。条件下观察到的真菌弛子。

4、用TESCANCL探测器获得的石英晶体的CL图像。